几百毫秒内就可获得晶圆粗糙表面形貌

先进封装3D检测

测量芯片表面粗糙度、翘曲和台阶高度等

分享一组数据由PicoStation 变焦扫描10*12阵列拼接而成，XY幅面大小为5.97*3.86mm。

测量激光反射镜表面形貌

我们在测量区域的表面粗糙的时候是否曾经想过可以将面粗糙度值（Sa、Sq、Sz 等）与线粗糙度值（Ra、Rq、Rz 等）进行比较？

在先进制造和科学研究中，有诸多场景需要用到高精度厚度测量。